IR孔透過(guò)率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過(guò)率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率創新科技，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢特性。適用于棱鏡服務機製、鍍膜鏡流程、膠合鏡、平行平板認為、太陽(yáng)膜運行好、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。
 

　　IR孔透過(guò)率測(cè)試儀的性能特點(diǎn)：
 

　　1紮實、智能化軟件操作：可自定義測(cè)量方式和角度同期，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍可能性更大，高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析鍛造。
 

　　2、譜圖管理：IR孔透過(guò)率測(cè)試儀可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖使命責任，批量保存測(cè)量結(jié)果共謀發展，記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間，能對(duì)譜圖進(jìn)行更名持續創新、定義顏色創造、選擇是否顯示、加粗等操作分析，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
 

　　3、自定義測(cè)量方案：用戶可以自行定義測(cè)量的方案合規意識，同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)聽得懂，使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確合理需求。
 

　　4全技術方案、譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫(kù)，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果先進水平，用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行添加重要的、修改和刪除，還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究共享。
 

　　5高端化、CIE顏色測(cè)量功能：可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)，x姿勢，y充分發揮，L，a重要平臺，b相互融合，飽和度，主波長(zhǎng)等服務效率。
 

　　6不要畏懼、數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能：可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖導向作用，自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱。