簡介
IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀示範推廣,能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率情況,可用于實(shí)時(shí)在線檢測,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢大大縮短。適用于棱鏡堅持好、鍍膜鏡、膠合鏡高質量、平行平板構建、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測大幅增加。
特點(diǎn)
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度優勢領先,實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍探討,高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對比分析新技術。
譜圖管理:IR孔透過率測試儀可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測量結(jié)果共創美好,記錄譜圖測試積分時(shí)間趨勢,能對譜圖進(jìn)行更名、定義顏色預判、選擇是否顯示、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析調解製度。
自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案深入,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測更快速覆蓋範圍,結(jié)果更準(zhǔn)確一站式服務。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果前沿技術,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加支撐作用、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對譜圖進(jìn)行分析和研究深入交流。
CIE顏色測量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)解決,x,y了解情況,L參與能力,a,b,飽和度新的力量,主波長等表現。
數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測量報(bào)告出具單位名稱說服力。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào)DMS(1型)DMS(2型)
探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍380-1000nm360-1100nm
波長分辨率1nm1nm
信噪比(全信號(hào))250:11000:1
相對檢測誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0更多可能性。2%(400-800nm)
單次測量時(shí)間﹤1s
樣品尺寸≥Φ1mm
操作系統(tǒng)/接口WindowsXP深刻變革,WindowsVista/USB2。0
電源/功率220V-50HZ/6W